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影響涂層測(cè)厚儀的精度的原因
涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀是采用磁感應(yīng)原理進(jìn)行測(cè)量的，它采用計(jì)術(shù)，無損的檢測(cè)出涂層厚度。
磁性法測(cè)厚受基體金屬的變化影響，為避免熱處理和冷加工因素影響，應(yīng)使用與試片基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試片進(jìn)行"校準(zhǔn)",也可用待涂覆件進(jìn)行校準(zhǔn)。
金屬基體的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量也是有影響的，而金屬基體上的電導(dǎo)率與材料成分及熱處理方法有關(guān)，所以應(yīng)使用與試片金屬基體相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行對(duì)儀器的校準(zhǔn)。
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